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陶瓷原料中多种成分的测定_X_射线荧光光谱法(粉末压片)(T/CG2022)10页

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陶瓷原料中多种成分的测定_X_射线荧光光谱法(粉末压片)(T/CG2022)简介

本文件规定了测定陶瓷原料中多种成分X射线荧光光谱法的原理、试剂和材料、仪器设备、试样制备、分析步骤、结果计算、精密度及实验报告。本文件适用于陶瓷原料中SiO2、Al2O3、MgO、K2O、CaO、TiO2、MnO2、Fe2O3、Cr2O3的测定,测定范围见表1。表 1 组分及测量范围分析组分 含量范围a(质量分数)/%SiO2 30.0-85.0Al2O3 0.5-40.0MgO 0.05-38.50K2O 0.05-7.50CaO 0.05-35.00TiO2 0.05-8.00MnO2 0.05-2.00Fe2O3 0.05-24.00Cr2O3 0.05-2.00a测量范围根据使用标样变动。

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